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调节远程等离子源以获得具有可重复蚀刻与沉积率的增进性能

摘要

本公开内容的实施例一般关于用以调节远程等离子体产生器的内壁表面的方法。在一个实施例中,提供了一种用以处理基板的方法。所述方法包括下列步骤:将远程等离子体源的内壁表面暴露于处在激发态的调节气体,以钝化远程等离子体源的内壁表面,其中该远程等离子体源透过导管耦接至处理腔室,其中基板设置于处理腔室中,且调节气体包含含氧气体、含氮气体、或前述气体的组合。已观察到所述方法能增进处理腔室中的解离/重组速率及等离子体耦合效率,且因此提供了晶片至晶片之间的可重复且稳定的等离子体源表现。

著录项

  • 公开/公告号CN111286719B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料公司;

    申请/专利号CN202010101748.6

  • 申请日2015-04-29

  • 分类号C23C16/44(20060101);C23C16/02(20060101);C23C16/505(20060101);H01L21/205(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人汪骏飞;侯颖媖

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 13:04:59

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