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基于漏源导通电压积分的SiC MOSFET短路检测电路

摘要

本申请提出一种基于漏源导通电压积分的SiC MOSFET短路检测电路,涉及电力电子技术领域,包括:电压互感器(PT)一次侧并联在电力电子电路中的SiC MOSFET的漏极和源极;积分电阻(R)一端与电压互感器(PT)二次侧一端连接,积分电阻(R)另一端、积分电容(C)一端、开关管(S1)一端与运算放大器的反相输入端连接;电压互感器(PT)的二次侧的另一端和运算放大器同相输入端接地,积分电容(C)另一端、开关管(S1)另一端与运算放大器的输出端连接,运算放大器的输出端与比较器的反相输入端连接,比较器的同相输入端与参考电压连接。由此,可以快速检测SiC MOSFET短路情况并输出短路信号,且母线电压越大时短路保护动作越迅速,能够提高电力电子系统的可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN112946447B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京交通大学;

    申请/专利号CN202110043527.2

  • 申请日2021-01-13

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人韩海花

  • 地址 100044 北京市海淀区上园村3号

  • 入库时间 2022-08-23 13:04:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-08

    授权

    发明专利权授予

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