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存储器存储装置及其电阻式存储器元件成型方法

摘要

本发明提供一种存储器存储装置及其电阻式存储器元件成型方法。对冗余电阻式存储器元件施加测试成型电压,并读取对应的测试电流。依据测试成型电压、测试电流、成型电流电压特性数据以及目标成型电流决定施加于主存储器晶胞区块的成型电压。

著录项

  • 公开/公告号CN111223508B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华邦电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201811427146.9

  • 申请日2018-11-27

  • 分类号G11C13/00(20060101);

  • 代理机构11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴志红;臧建明

  • 地址 中国台湾台中市大雅区科雅一路8号

  • 入库时间 2022-08-23 12:48:27

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