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转换延迟故障测试压缩环境下测试精简方法和装置

摘要

本发明实施例提供一种转换延迟故障测试压缩环境下测试精简方法和装置。所述方法包括:根据故障表进行动态测试精简,生成第一测试集合;根据测试压缩结构将所述第一测试集合扩展为第二测试集合,根据所述第二测试集合进行静态测试精简,所述测试压缩结构包括软件定义线性反馈移位寄存器SLFSR和相移器。本发明实施例能够实现测试向量的高效率精简,有效地降低数字VLSI测试时间,提高测试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN112649723B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201910965117.6

  • 发明设计人 向东;

    申请日2019-10-11

  • 分类号G01R31/317(20060101);

  • 代理机构11002 北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人王文思

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱

  • 入库时间 2022-08-23 12:47:15

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