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基于water-MTLF方法对超疏水气膜层厚度的测量装置及测量方法

摘要

本发明公开了一种基于water-MTLF方法对超疏水气膜层厚度的测量装置及测量方法,该测量装置包括定位测量皿、防浸润丝线、升降控制步进电机、电机支撑平台、水平移动平台和液面高度测量仪。与之匹配的测量方法是先测量水中超疏水气膜层的厚度,然后测量硅油中超疏水气膜层的厚度,两者相减可以得到超疏水气膜层的厚度。相比于CLSM技术和Micro-PIV技术的测量方法,本发明对超疏水表面的测量范围更大,能够测量表面积不小于100mm×100mm,测量精度为10nm。测量过程对操作人员的专业水平要求更低。

著录项

  • 公开/公告号CN112833798B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN202011634776.0

  • 申请日2020-12-31

  • 分类号G01B11/06(20060101);

  • 代理机构11121 北京永创新实专利事务所;

  • 代理人冀学军

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 12:44:51

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