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透明基板内部二维码深度测量系统和测量方法

摘要

本发明公开一种透明基板内部二维码深度测量系统和测量方法,通过获取透明基板内部不同位置处的二维码图像并计算最佳清晰度图像所对应的Z轴高度,然后通过该Z轴高度和激光位移传感器采集的高度变化值,计算得到二维码深度,再通过blob分析得到所有二维码码点的面积和码点数,计算出单个码点的大小,从而实现准确、高效的进行透明基板内部二维码深度的测量及二维码码点一致性的测量。

著录项

  • 公开/公告号CN112652007B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉华工激光工程有限责任公司;

    申请/专利号CN202011619984.3

  • 申请日2020-12-30

  • 分类号G06T7/55(20170101);G06T7/62(20170101);G06T7/00(20170101);G06K7/10(20060101);G06K7/14(20060101);

  • 代理机构32224 南京纵横知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐瑛

  • 地址 430223 湖北省武汉市东湖开发区华中科技大学科技园激光产业园

  • 入库时间 2022-08-23 12:27:03

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