公开/公告号CN112652007B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-09-10
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉华工激光工程有限责任公司;
申请/专利号CN202011619984.3
申请日2020-12-30
分类号G06T7/55(20170101);G06T7/62(20170101);G06T7/00(20170101);G06K7/10(20060101);G06K7/14(20060101);
代理机构32224 南京纵横知识产权代理有限公司;
代理人徐瑛
地址 430223 湖北省武汉市东湖开发区华中科技大学科技园激光产业园
入库时间 2022-08-23 12:27:03
机译: 3 3D图像深度的测量方法和基于边界遗传的分层正交编码的3D图像深度的测量系统
机译: 3D图像深度的测量方法和使用基于边界继承的分级正交编码的3D图像深度的测量系统
机译: 深度测量系统和深度测量方法