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绝对位置测量方法和绝对位置测量装置

摘要

提供了一种绝对X‑Y‑Θ位置传感器以测量精密多轴工作台系统的平面运动。通过分析2D相位编码二进制标尺(2D PEBS)的旋转的感兴趣区域的图像,分别在两个单独点处获得绝对位置值。可以通过将所述值组合来计算绝对X‑Y‑Θ位置。

著录项

  • 公开/公告号CN111060002B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 韩国标准科学研究院;

    申请/专利号CN201910972193.X

  • 发明设计人 金钟安;金在完;李在镕;禹济忻;

    申请日2019-10-14

  • 分类号G01B11/00(20060101);G01B11/26(20060101);

  • 代理机构11290 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人王新春;曹正建

  • 地址 韩国大田广域市

  • 入库时间 2022-08-23 12:16:50

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