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一种磁致伸缩导波拓扑信号处理方法及无损检测方法

摘要

本发明属于无损检测领域,并具体公开了一种磁致伸缩导波拓扑信号处理方法及无损检测方法,包括以下步骤:S1从被测对象磁致伸缩导波信号中截取所需的信号;S2利用窗宽M的滑动矩形窗从信号中截取M个信号数据;S3利用截取的信号数据构建矩阵A;S4将矩阵A转换为平面直角坐标系中的M‑1个点的集合B,并计算集合B中各点间的欧式距离;S5取最大欧式距离作为最大连通半径对集合B持续同调,得到集合B中各点从诞生到消亡时对应的连通半径,计算各连通半径的方差;S8重复步骤S2~S7,获得所截取信号处理后的方差集合,完成被测对象磁致伸缩导波拓扑信号的处理。本发明无需标准试样,有利于现场检测,且无需多次测量,操作简单。

著录项

  • 公开/公告号CN112240910B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN202010984437.9

  • 发明设计人 武新军;段淑玉;

    申请日2020-09-16

  • 分类号G01N29/24(20060101);G01N29/44(20060101);

  • 代理机构42267 武汉华之喻知识产权代理有限公司;

  • 代理人张彩锦;梁鹏

  • 地址 430074 湖北省武汉市珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 12:16:33

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