首页> 中国专利> 基于像素化双波段窄带滤光片阵列的温度测量系统及方法

基于像素化双波段窄带滤光片阵列的温度测量系统及方法

摘要

本发明公开了一种基于像素化双波段窄带滤光片阵列的温度测量系统及方法,涉及红外光测力学技术领域,温度测量系统包括双波段阵列图像采集装置和计算装置;在标定阶段,双波段阵列图像采集装置用于获取高温标定装置标定区的双波段辐射光的灰度阵列图像,计算装置用于获取矫正参数矩阵和系统响应参数矩阵;在测量阶段,双波段阵列图像采集装置用于获取待测物的双波段辐射光的灰度阵列图像,计算装置用于对待测物灰度阵列图像进行修正和数据提取,以及计算待测物的温度场。本发明首次在温度测量系统和温度测量方法中消除了各个滤波单元的质量差异、镜头畸变、色差、滤波单元与像元的集成误差等带来的共同影响,提高了测温系统及方法的精度。

著录项

  • 公开/公告号CN111351578B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN202010123464.7

  • 申请日2020-02-27

  • 分类号G01J5/00(20060101);G06T7/80(20170101);G06T7/90(20170101);G06F17/16(20060101);

  • 代理机构11603 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人于淼

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2022-08-23 12:15:37

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号