公开/公告号CN110036264B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-07-27
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申请/专利权人 伟摩有限责任公司;
申请/专利号CN201780074785.9
申请日2017-12-01
分类号G01J1/04(20060101);G01S7/481(20060101);G01S7/4863(20200101);G01S7/4865(20200101);G01S17/02(20200101);G01S17/89(20200101);G01S17/931(20200101);G02B5/00(20060101);G02B6/02(20060101);G02B6/08(20060101);G02B19/00(20060101);G02B27/09(20060101);F21V8/00(20060101);
代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;
代理人金玉洁
地址 美国加利福尼亚州
入库时间 2022-08-23 12:12:17
机译: 集成光学检测器,用于检测光束光路的变化-使用波导形成测量光束和参考光束,并使用波导将干涉仪连接到分束器
机译: 同时测量胶卷的光密度和颗粒度-使用小孔径的自扫描CCD检测器作为密度计,并使用漫射光密度作为平均值和颗粒的RMS作为所有微密度的标准偏差
机译: 波导辐射器,阵列天线辐射器和合成孔径雷达系统