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基于层次聚类的二次曲面基元提取方法、系统、装置

摘要

本发明属于计算机图形处理领域,具体涉及一种基于层次聚类的二次曲面基元提取方法、系统、装置,旨在解决简单二次曲面基元检测不适定的问题。本系统方法包括获取三维模型的三角网格,将每个三角形作为一个聚类区域,得到聚类区域集合;分别将两两边相邻的聚类区域作为一个有序对,分别计算各有序对的拟合代价;选取拟合代价最小的一组有序对,将对相应的聚类区域进行拟合,作为新的聚类区域更新聚类区域集合;基于新的聚类区域集合,根据预设的迭代次数迭代计算各聚类区域的拟合代价并拟合,获取各类型聚类区域的拟合结果;基于得到拟合结果提取二次曲面基元。本发明提供一种高效的二次曲面基元检测的方法,提取了高品质的简单二次曲面基元。

著录项

  • 公开/公告号CN110223378B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院自动化研究所;

    申请/专利号CN201910452685.6

  • 发明设计人 严冬明;杨小龙;贾晓红;张晓鹏;

    申请日2019-05-28

  • 分类号G06T17/00(20060101);

  • 代理机构11576 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郭文浩;尹文会

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村东路95号

  • 入库时间 2022-08-23 12:00:15

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