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一种基于正电子湮没技术测量液体中杂质粒径的方法

摘要

本发明公开一种基于正电子湮没技术测量液体中杂质粒径的方法,包括如下步骤:步骤1,将γ光子探测器安装在待测液体的管道上,同时将一定活度的核素与含有杂质的待测液体充分混合后注入管道中;步骤2,核素产生β衰变放出正电子,正电子与待测液体中的电子碰撞发生湮没反应,产生γ光子对,此时γ光子探测器记录接收到的γ光子;步骤3,设置能量窗的长度,确保未发生散射的γ光子和发生散射的γ光子均能被检测到;步骤4,计算颗粒散射比,进而得到杂质颗粒平均粒径。此种方法可实现高温高压强腐蚀的密闭环境下液体中不可溶杂质颗粒的平均粒径的实时非接触式测量。

著录项

  • 公开/公告号CN109632850B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京航空航天大学;

    申请/专利号CN201910004017.7

  • 发明设计人 孙通;赵敏;姚敏;郭瑞鹏;

    申请日2019-01-03

  • 分类号G01N23/22(20180101);

  • 代理机构32200 南京经纬专利商标代理有限公司;

  • 代理人葛潇敏

  • 地址 210016 江苏省南京市秦淮区御道街29号

  • 入库时间 2022-08-23 11:58:09

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