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一种具有高读噪声容限的SRAM存储单元电路

摘要

一种具有高读噪声容限的SRAM存储单元电路,属于集成电路技术领域。第一NMOS管的栅极连接第二NMOS管的栅极和字线,其漏极作为共享传输端,其源极连接第二PMOS管、第三PMOS管、第四NMOS管和第六NMOS管的栅极以及第一PMOS管和第三NMOS管的漏极;第二NMOS管的漏极连接位线,其源极连接第一PMOS管和第五NMOS管的栅极以及第三PMOS管和第六NMOS管的漏极;第二PMOS管的源极连接第一PMOS管的源极并连接电源电压,其漏极连接第三NMOS管的栅极、第三PMOS管的源极和第四NMOS管的漏极;第五NMOS管的漏极连接第三NMOS管的源极,其源极连接第四NMOS管和第六NMOS管的源极并接地。本发明具有较高的读噪声容限,能够解决半选问题,用于位交错阵列结构中可以改善存储器的软错误率问题。

著录项

  • 公开/公告号CN108766494B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201810535778.0

  • 申请日2018-05-30

  • 分类号G11C11/419(20060101);

  • 代理机构51232 成都点睛专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人葛启函

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 11:56:03

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