公开/公告号CN111693737B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-05-07
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院力学研究所;
申请/专利号CN202010558297.9
申请日2020-06-18
分类号G01Q60/40(20100101);
代理机构11390 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人胡剑辉
地址 100190 北京市海淀区北四环西路15号
入库时间 2022-08-23 11:44:57
机译: 一种用于原子探针层析成像的针尖的制备方法,包括根据样品的测量坐标将平面漏电极的通孔引导到测量位置,以便通过机械手进行层析成像
机译: 用于检查样品的原子力显微镜,具有用于接收测量变量(即探针尖端和样品之间的摩擦力)的评估单元,以及用于确定伪影的力互作用之外的输入
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱