SoC芯片测试方法、装置、系统和SoC芯片测试验证板

摘要

本申请涉及一种SoC芯片测试方法、装置、系统和SoC芯片测试验证板。所述方法包括：获取待测SoC芯片的芯片架构类型，根据芯片架构类型、测试程序框架和芯片接口驱动函数数据库生成芯片测试程序，测试程序框架用于完成多种芯片架构类型的测试项，芯片接口驱动函数数据库包括完成各测试项的接口驱动函数，根据测试程序对待测SoC芯片进行测试。本方法能够根据待测SoC芯片的芯片架构类型、测试程序框架和芯片接口驱动函数数据库可以生成适用于该待测SoC芯片的测试程序，并对待测SoC芯片进行测试，可以通用于各种不同芯片架构类型的待测芯片的测试，避免对各种SoC芯片进行单独开发测试程序，以及减少单独开发测试程序所耗费的人力和时间，降低SoC芯片测试的成本。