一种基于SRAM的中子能谱探测器及测量中子能谱的反演算法

摘要

本发明涉及辐射探测技术领域，尤指一种基于静态随机存取存储器芯片（以下称为SRAM）的中子能谱探测器及测量中子能谱的反演算法；包括硬件设备和反演算法两部分，其中硬件设备是一套基于SRAM的中子能谱探测器；反演算法是通过统计若干不同种类且SEU截面函数已知的SRAM翻转次数，反推出未知中子能谱；采用贝叶斯方法进行中子能谱的反演,易于通过程序实现，实验测量中子能谱时，通过积累一定数量的统计，得到一组芯片随中子能量变化的翻转概率曲线，每块芯片的翻转概率分布代入能谱反演程序，得到中子能谱，能谱反演程序基于C++语言和开源代码库ROOT数据分析程序包进行开发。通过测试验证，本发明的测试方法可以确保结果的准确性和有效性。