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原位时间分辨X射线吸收谱的测量装置和测量方法

摘要

一种原位时间分辨X射线吸收谱的测量装置和方法。测量装置主要包括X射线源、第一狭缝、声光X射线滤波器、射频发射器、第二狭缝、前电离室、前电离室信号放大器、待测样品、后电离室、后电离室信号放大器、数据采集器和计算机等部分。X射线源、声光X射线滤波器和射频发射器用于产生单色X光束,前电离室用于测量X光束穿过样品前的强度,后电离室用于测量X光束穿过样品后的强度,前电离室信号放大器、后电离室信号放大器、数据采集器和计算机用于数据采集和数据处理。本发明在测量过程中不存在任何机械部件的运动,因而可实现X射线吸收谱的时间分辨测量,此外对X射线吸收谱具有较高的测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN107219241B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201710312948.4

  • 发明设计人 邵建达;刘世杰;王圣浩;

    申请日2017-05-05

  • 分类号G01N23/083(20180101);

  • 代理机构31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张宁展

  • 地址 201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-23 11:17:03

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