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紫外-可见光-近红外透反射光谱测量装置和测量方法

摘要

一种紫外‑可见光‑近红外透反射光谱测量装置和测量方法。测量装置包括复色光源、光栅单色器、光阑、偏振片、分束器、参考光高速探测器、测试光高速探测器、示波器和计算机,本发明优点是:(1)显著提高了透反射光谱的采集速度,可以实现样品透反射光谱的快速测量;(2)测量系统具有较高的测量精度,样品透反射率的测量误差约为0.1%‑0.3%;(3)在测量过程中,光栅单色器内部的机械部件始终保持匀速的运动状态,测试系统因而具有较高的机械稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN106841065B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201710000703.8

  • 发明设计人 刘世杰;王圣浩;王微微;徐天柱;

    申请日2017-01-03

  • 分类号G01N21/31(20060101);G01N21/25(20060101);G01N21/01(20060101);

  • 代理机构31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张宁展

  • 地址 201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-23 11:13:43

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