法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-01-05
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/16 授权公告日:20080723 终止日期:20091029 申请日:20060929
专利权的终止
2008-07-23
授权
授权
2007-05-16
实质审查的生效
实质审查的生效
2007-03-21
公开
公开
机译: 基于微结构折射光学元件的电子散斑干涉测量的面外变形或振动分析测量方法
机译: 通过散斑干涉测量法测量物体的装置及相关方法
机译: 通过散斑干涉测量法测量物体的装置及相关方法