公开/公告号CN100394174C
专利类型发明授权
公开/公告日2008-06-11
原文格式PDF
申请/专利权人 株式会社日立制作所;
申请/专利号CN200310123047.9
申请日2003-12-23
分类号G01N29/00(20060101);
代理机构11243 北京银龙知识产权代理有限公司;
代理人韩惠琴
地址 日本东京都
入库时间 2022-08-23 09:00:44
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2008-06-11
授权
授权
2005-04-06
实质审查的生效
实质审查的生效
2005-02-02
公开
公开
机译: 使用导波的非破坏性检查系统及非破坏性检查方法
机译: 用于非破坏性检查的标准样品制造方法,用于非破坏性检查的标准样品以及使用相同方法的非破坏性检查方法
机译: 非破坏性检查装置,非破坏性检查系统及非破坏性检查方法