首页> 中国专利> 光学元件的评价值计算方法、评价值计算装置以及记录介质

光学元件的评价值计算方法、评价值计算装置以及记录介质

摘要

光学元件的评价值计算方法包含如下步骤:针对光学元件的被检面取得作为与设计值之间的偏差的形状误差;针对各位置(i)而取出、所取得的形状误差中的被包含在如下范围内的值中的权重函数的成分,该范围是以光学元件的各位置(i)为中心且半径(u)的2倍的范围,该半径(u)比有效半径小;以及根据所取出的各位置(i)的权重函数的成分来计算评价值。

著录项

  • 公开/公告号CN108139294B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HOYA株式会社;

    申请/专利号CN201680058879.2

  • 发明设计人 松冈祥平;

    申请日2016-07-25

  • 分类号

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人李辉

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 11:09:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-14

    授权

    授权

  • 2018-10-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/00 申请日:20160725

    实质审查的生效

  • 2018-06-08

    公开

    公开

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