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红外序列图像历史趋势分析方法

摘要

红外序列图像历史趋势分析方法,属于设备故障诊断领域,解决红外热图像配准问题,此基础上进行历史趋势分析。本发明步骤为:1将待分析设备不同时期拍摄的红外热图像整理到一个分析文件夹中;2用户手工输入定位点,利用仿射变换矩阵、投影变换矩阵或二次型变换矩阵,然后用双线性内插,对图像几何校正,按照参考图像的空间位置配准;3利用热像仪“面扫描”的特点,在图像上搜索,得到各兴趣点位置及温度,绘出并显示该设备在此兴趣点不同时期温度的变化曲线图。本发明实现了设备红外热图的历史趋势分析,为红外热像仪增添动态分析能力;还可以通过与历史温度变化情况的比较观察出异常的温度变化发现故障早期征兆,防范于未然。

著录项

  • 公开/公告号CN100383502C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN200410061383.X

  • 发明设计人 王晓宇;陈吉红;彭芳瑜;黄植红;

    申请日2004-12-17

  • 分类号G01J5/00(20060101);G06F3/00(20060101);G06K9/20(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人方放

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-03-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 5/00 授权公告日:20080423 终止日期:20100118 申请日:20041217

    专利权的终止

  • 2008-04-23

    授权

    授权

  • 2005-08-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-06-29

    公开

    公开

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