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肖特基接触注入增强型SiC PNM-IGBT器件及其制备方法

摘要

本发明涉及一种新型肖特基接触注入增强型SiC PNM‑IGBT器件其制备方法。该制备方法包括:在SiC衬底连续生长过渡层、第一漂移层、缓冲层、集电层;刻蚀第一漂移层形成第一沟槽,淀积第一氧化层;生长第二漂移层;在第二漂移层上生长P型阱区,在P型阱区形成P+掺杂区、P接触区和N+发射区;刻蚀制备第二沟槽,形成埋氧化层;在第二沟槽生长第二氧化层,淀积多晶硅;淀积金属层分别形成发射极欧姆接触电极、发射极肖特基接触电极和集电极接触电极。本发明在槽栅两侧引入埋氧化层,和在发射极引入肖特基接触电极增强了电导调制效应,降低了导通电阻,并不会导致关断时间明显增大,且在工艺上与现有工艺兼容。

著录项

  • 公开/公告号CN107507861B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201710466243.8

  • 申请日2017-06-19

  • 分类号

  • 代理机构西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘长春

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 11:01:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-09

    授权

    授权

  • 2018-01-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/739 申请日:20170619

    实质审查的生效

  • 2017-12-22

    公开

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