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韦布尔杂波环境下基于偏斜度和均值比的恒虚警检测方法

摘要

本发明公开了一种韦布尔杂波环境下基于偏斜度和均值比的恒虚警检测方法。该方法步骤如下:对包络检波器的输出进行恒虚警检测,进行恒虚警检测的参考滑窗分为前沿滑窗和后沿滑窗;计算前、后沿滑窗的偏斜度SK和统计均值比MR,将SK与偏斜度门限进行比较,判断前、后沿滑窗是否含有干扰目标;将MR与均值比门限进行比较,判断前、后沿滑窗是否来自同一分布;根据判断结果,选择合适的参考滑窗,对参考单元数据采用Log‑t CFAR检测方法计算检测门限,判断检测单元是否存在目标。本发明在均匀杂波环境中具有较低的恒虚警检测损失,在多目标环境中具有良好的目标检测能力,在杂波边缘环境中具有良好的虚警控制能力。

著录项

  • 公开/公告号CN107271973B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京理工大学;

    申请/专利号CN201710387640.6

  • 申请日2017-05-27

  • 分类号

  • 代理机构南京理工大学专利中心;

  • 代理人薛云燕

  • 地址 210094 江苏省南京市玄武区孝陵卫200号

  • 入库时间 2022-08-23 10:59:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-22

    授权

    授权

  • 2017-11-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S7/40 申请日:20170527

    实质审查的生效

  • 2017-10-20

    公开

    公开

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