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离子束蚀刻方法和离子束蚀刻设备

摘要

提供一种离子束蚀刻方法,由此可以在不会使装置大型化的情况下,即使在低入射角静止条件下也能够进行高度均一的IBE处理。该离子束蚀刻方法包括以下步骤:改变开口部相对于基板的位置;使用通过所述开口部的离子束来蚀刻所述基板;以及随着所述离子束入射到所述基板的位置的中心远离所述离子源,减小倾斜角。

著录项

  • 公开/公告号CN107004591B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 佳能安内华股份有限公司;

    申请/专利号CN201580057360.8

  • 发明设计人 神谷保志;赤坂洋;坂本清尚;

    申请日2015-10-02

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 10:57:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-01

    授权

    授权

  • 2017-08-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/302 申请日:20151002

    实质审查的生效

  • 2017-08-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/302 申请日:20151002

    实质审查的生效

  • 2017-08-01

    公开

    公开

  • 2017-08-01

    公开

    公开

  • 2017-08-01

    公开

    公开

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