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颗粒二维轮廓表面整体粗糙度计算方法

摘要

本发明公开了一种颗粒二维轮廓表面整体粗糙度计算方法,包括以下步骤:步骤S10,对颗粒的边缘进行区域划分,对划分后的每个区域均进行扫描,获得各分区的扫描图片,将各分区的扫描图片进行拼接形成完整轮廓图片,其中,每两个相邻的分区具有相交区域,所述完整轮廓图片显示有颗粒的实际轮廓;步骤S20,基于所述实际轮廓构建傅里叶函数,计算出傅里叶系数和基准坐标点,并基于基准坐标点构建基准轮廓;步骤S30,基于所述基准轮廓和实际轮廓计算颗粒的轮廓表面粗糙度。解决了在对于不规则二维颗粒,大多数粗糙度计算方法并不适用,计算不科学,精准度低的技术问题。

著录项

  • 公开/公告号CN109084708B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳大学;

    申请/专利号CN201810825940.2

  • 发明设计人 苏栋;王翔;庞小朝;陈湘生;

    申请日2018-07-25

  • 分类号G01B11/30(20060101);G06F30/20(20200101);G06F17/14(20060101);

  • 代理机构44451 深圳市添源知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人罗志伟

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区南海大道3688号

  • 入库时间 2022-08-23 10:56:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-21

    授权

    授权

  • 2019-01-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/30 申请日:20180725

    实质审查的生效

  • 2019-01-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/30 申请日:20180725

    实质审查的生效

  • 2018-12-25

    公开

    公开

  • 2018-12-25

    公开

    公开

  • 2018-12-25

    公开

    公开

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