一种采用自适应网格划分和滑动窗口技术快速计算SRAM失效概率的方法

摘要

本发明属半导体可制造性设计领域，具体涉及考虑深亚微米工艺扰动的SRAM快速失效概率仿真计算方法。本方法中，通过在参数空间内进行椭球体变换，并采用自适应网格划分和滑动窗口方法，该方法能大幅减小采样量，获得符合精度要求的SRAM失效概率以及参数空间的失效边界信息。本发明采用精确的SPICE仿真，不依赖经验和半经验的模型；且仿真过程精度高、仿真次数少，能达到快速计算的目的；本发明方法不仅得到SRAM失效概率而且得到参数空间失效边界分布，有利于电路的优化设计。