一种X染色体高密度探针定制的全基因组拷贝数检测芯片

摘要

本发明提供一种针对精神发育障碍患者的X染色体高密度探针定制的全基因组拷贝数检测芯片，能够高密度检测X染色体上的与精神发育障碍相关的基因。本发明的基因芯片灵敏度高，特异性和可靠性高，可科学用于筛查精神发育障碍患儿的遗传病因，为临床不明原因精神发育障碍儿童，特别是男童提供基因诊断，从而提高该病的诊断率，为该病的预后及遗传咨询提供可靠信息。