一种采用时延参数进行测距的方法和装置

摘要

本发明实施例提供了一种采用时延参数进行测距的方法和装置，获取基带信号的第一码片采样数据，以及，所述基带信号对应的扩频信号；依据所述第一码片采样数据生成解扩信号；依据所述解扩信号与所述扩频信号获得互相关函数；采用所述互相关函数生成时延参数；采用所述时延参数进行测距。相对于直接传统的直接解扩而言，更准确快速地得到时延参数，减少多径效应的影响，使时延参数的测量结果更加准确，且应用于距离的测量，使测量的结果更加准确；通过简单的物理层的操作，消除多径效应的影响，更准确地测量时延参数，提高了获取的时延参数的精度。