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基于Hadoop的集成电路版图开路关键面积提取方法

摘要

本发明公开一种基于Hadoop的集成电路版图开路关键面积提取方法,实现步骤为:(1)读取集成电路的版图图像;(2)上传集成电路的版图图像;(3)分块存储集成电路版图图像;(4)将数据节点的版图图像分片;(5)转换版图图像为映射类Map的输入键值对;(6)对版图图像进行预处理;(7)提取线网边缘;(8)对线网边缘进行膨胀;(9)计算开路关键面积;(10)输出开路关键面积;(11)设置化简类Reduce;(12)提交任务。本发明利用分布式处理框架Haoop对集成电路版图进行并行开路关键面积提取,能完成大规模集成电路版图开路关键面积快速提取,可以提高集成电路版图的开路关键面积提取效率。

著录项

  • 公开/公告号CN108257172B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201810034620.5

  • 发明设计人 王俊平;张瑶;禹舟;伍尧;魏书蕾;

    申请日2018-01-15

  • 分类号

  • 代理机构陕西电子工业专利中心;

  • 代理人田文英

  • 地址 710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:38:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-06

    授权

    授权

  • 2018-07-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/62 申请日:20180115

    实质审查的生效

  • 2018-07-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/62 申请日:20180115

    实质审查的生效

  • 2018-07-06

    公开

    公开

  • 2018-07-06

    公开

    公开

  • 2018-07-06

    公开

    公开

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