首页> 中国专利> 一种单片集成器件的制作方法及单片集成器件

一种单片集成器件的制作方法及单片集成器件

摘要

本发明提供了一种单片集成器件的制作方法,包括:选择一衬底;在衬底上外延生长多量子阱有源区;在多量子阱有源区上刻蚀光栅层和相位层,并对接生长无源波导层;在无源波导层上制作光栅;在多量子阱有源区上刻蚀电吸收调制区,并对接生长电吸收调制层;在多量子阱有源区、无源波导层、光栅和电吸收调制层上生长光限制脊波导层;在光限制脊波导层上生长电接触层;在电接触层上制作P电极;在衬底背面制作N电极;将经操作后的衬底解理成条状且一端蒸镀高反射膜、另一端蒸镀抗反射薄膜,并解理成单个管芯,进行封装。本发明提供的制作方法,能够有效地解决了TWDM‑PON的核心半导体光电子集成芯片和封装技术的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN105914582B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉华工正源光子技术有限公司;

    申请/专利号CN201610389643.9

  • 发明设计人 韩宇;

    申请日2016-06-03

  • 分类号

  • 代理机构北京汇泽知识产权代理有限公司;

  • 代理人程殿军

  • 地址 430223 湖北省武汉市东湖高新技术开发区华中科技大学科技园正源光子产业园

  • 入库时间 2022-08-23 10:34:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-11

    授权

    授权

  • 2016-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01S5/34 申请日:20160603

    实质审查的生效

  • 2016-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01S 5/34 申请日:20160603

    实质审查的生效

  • 2016-08-31

    公开

    公开

  • 2016-08-31

    公开

    公开

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