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提高了可冗余补救的概率的非易失性半导体存储器

摘要

在MRAM的存储单元阵列中,借助于将正常存储单元与保持基准值的基准存储单元进行比较,使每一个单元存储1位数据。备用存储单元用2个单元存储1位数据。在备用存储单元的2个单元中写入互补的数值,借助于将这2个单元与读出放大器连接,来读出所存储的1位数据。多配置在阵列周边部分的备用存储单元部分抗元件完成后的尺寸离散性的能力增强,可以提高置换成备用存储单元进行补救时的成功率。

著录项

  • 公开/公告号CN100338686C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-09-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三菱电机株式会社;

    申请/专利号CN03124142.5

  • 发明设计人 大石司;

    申请日2003-05-06

  • 分类号G11C16/06(20060101);G11C11/34(20060101);G11C11/15(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人刘宗杰;叶恺东

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-07-11

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11C 16/06 授权公告日:20070919 终止日期:20110506 申请日:20030506

    专利权的终止

  • 2007-09-19

    授权

    授权

  • 2004-05-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-02-25

    公开

    公开

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