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形成绝缘体上硅锗衬底材料的方法、衬底材料及异质结构

摘要

本发明提供了一种利用SIMOX和锗互扩散形成基本上驰豫的、高质量绝缘体上硅锗衬底材料的方法。该方法包括首先将离子注入含硅衬底中,从而在含硅衬底中形成富注入物区。富注入物区具有足够的离子浓度,使得在随后的高温退火期间可以形成阻挡锗扩散的阻挡层。接着,在含硅衬底的表面上形成含锗层,然后在允许形成阻挡层和锗互扩散的温度下进行加热步骤,从而在阻挡层上面形成了基本上驰豫的单晶硅锗层。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-07-11

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/20 授权公告日:20070815 终止日期:20110518 申请日:20040518

    专利权的终止

  • 2007-08-15

    授权

    授权

  • 2005-04-06

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-02-02

    公开

    公开

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