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一种工业CT分析物体密度及密度分布的方法

摘要

本发明提供一种工业CT分析物体密度及密度分布的方法,包括将已知密度物质作为参考物与被测物体一起置于检测台;参考物与被测物体距检测台中心距离一致;对两者线阵列扫描;取检测结果中包含被测物体与参考物任一切面为分析对象,以射束硬化环状伪影中心为圆心做基准圆,得到在基准圆圆周上与该中心距离一致的参考物及被测物体切面位置;在参考物切面上以基准圆圆周上任一点为圆心做参考物圆,该圆所在范围均在参考物切面之内;在被测物体切面上以基准圆圆周上任一点为圆心做被测物体圆,该圆所在范围均在被测物体切面之内;被测物体圆与参考物圆面积一致;利用工业CT对两圆进行灰度分析以得到两者灰度;基于该灰度计算被测物体密度值。

著录项

  • 公开/公告号CN105910956B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海硅酸盐研究所;

    申请/专利号CN201610237541.5

  • 申请日2016-04-15

  • 分类号

  • 代理机构上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人曹芳玲

  • 地址 200050 上海市长宁区定西路1295号

  • 入库时间 2022-08-23 10:26:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-26

    授权

    授权

  • 2016-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N9/24 申请日:20160415

    实质审查的生效

  • 2016-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 9/24 申请日:20160415

    实质审查的生效

  • 2016-08-31

    公开

    公开

  • 2016-08-31

    公开

    公开

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