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具有用于减小电磁耦合的隔离墙的半导体封装

摘要

公开了用于封装包括用于减小电磁耦合的墙的半导体装置(20)的系统及方法。半导体装置具有衬底(74),其上形成第一电路(22)和第二电路(24)彼此靠近。导电材料的隔离墙(50)位于所述第一电路和所述第二电路之间,所述隔离墙被配置来在所述半导体装置的操作期间减小所述第一和第二电路之间的电感耦合。提出了数种类型的隔离墙。

著录项

  • 公开/公告号CN104716107B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 恩智浦美国有限公司;

    申请/专利号CN201410759508.X

  • 申请日2014-12-11

  • 分类号H01L23/31(20060101);

  • 代理机构11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人刘倜

  • 地址 美国得克萨斯

  • 入库时间 2022-08-23 10:26:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-01

    授权

    授权

  • 2017-11-24

    著录事项变更 IPC(主分类):H01L23/31 变更前: 变更后: 申请日:20141211

    著录事项变更

  • 2017-11-24

    著录事项变更 IPC(主分类):H01L 23/31 变更前: 变更后: 申请日:20141211

    著录事项变更

  • 2016-12-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L23/31 申请日:20141211

    实质审查的生效

  • 2016-12-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/31 申请日:20141211

    实质审查的生效

  • 2016-12-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/31 申请日:20141211

    实质审查的生效

  • 2015-06-17

    公开

    公开

  • 2015-06-17

    公开

    公开

  • 2015-06-17

    公开

    公开

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