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用于借助计算机层析X射线摄影术确定结构的几何形状的方法和设备

摘要

本发明涉及一种用于至少应用计算机层析X射线摄影术传感装置来确定物体上的结构的几何形状的方法,该计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和探测器、优选地面探测器组成,其中通过计算机层析X射线摄影术传感装置例如在材料过渡的区域中生成表面测量点。为了利用任意的额定几何形状、特别是在没必要存在CAD模型的情况下来选择为了确定几何形状特征而要使用的表面测量点,提出:为了确定几何形状特征使用表面测量点,所述表面测量点基于可预先给定的规则被分配给要确定的几何形状特征,并且从所分配的表面测量点确定几何形状特征。

著录项

  • 公开/公告号CN105102923B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 沃思测量技术股份有限公司;

    申请/专利号CN201480005933.8

  • 发明设计人 R.克里斯托弗;I.施密特;

    申请日2014-01-24

  • 分类号G01N23/046(20180101);G01B15/00(20060101);G01B15/04(20060101);G01B5/00(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人卢江;刘春元

  • 地址 德国吉森

  • 入库时间 2022-08-23 10:20:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-06

    授权

    授权

  • 2016-02-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B15/04 申请日:20140124

    实质审查的生效

  • 2016-02-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 15/04 申请日:20140124

    实质审查的生效

  • 2015-11-25

    公开

    公开

  • 2015-11-25

    公开

    公开

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