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一种层状介质瞬变电磁测深定性分析方法

摘要

本发明涉及一种层状介质瞬变电磁测深定性分析方法,包括下述的步骤:利用瞬变电磁法获得层状介质断面单个实测点的二次场衰减曲线;确定背景二次场曲线;将单个实测点的二次场衰减曲线数值对应比上背景二次场曲线数值,所得结果再取相反数,得到二次场反比值曲线;根据二次场反比值曲线随时间变化规律定性判断层状地电结构或相对于参考点的地电结构的变化。该方法能够就单个瞬变电磁测深点进行垂向电性结构的定性分析,同时能够实时对比测点相对背景参考点下方的垂向电性结构变化,以便现场实时发现异常测点并做出应对。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-21

    授权

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  • 2016-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V3/38 申请日:20160318

    实质审查的生效

  • 2016-06-15

    公开

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