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一种复杂电子系统剩余寿命预测方法

摘要

本发明提供了一种复杂电子系统剩余寿命预测方法,采用节点的关联重要度描述与该节点直接相连的节点个数,采用位置重要度描述网络中节点在网络拓扑中的位置,采用失效率重要度描述网络中节点自身发生失效的可能性大小,累加得到节点的综合重要度,选取重要度排序中的前n个元器件作为剩余寿命关键元器件,建立n个关键元器件的失效物理模型,计算被选择的各个关键器件的剩余寿命,以最少剩余寿命作为复杂电子系统的剩余寿命。本发明以若干关键元器件的剩余寿命来表征系统的使用状态,达到对整个电子系统进行剩余寿命预测的目的,有效地实现了板级电子系统和整个系统的剩余寿命预测。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-10

    授权

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  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F19/00 申请日:20151230

    实质审查的生效

  • 2016-10-12

    公开

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