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PEEK/TPI复合材料中PEEK的分离及检测方法

摘要

本发明的目的是提供一种PEEK/TPI复合材料中PEEK的分离方法,所述方法包括如下步骤:碎化:PEEK/TPI复合材料的碎化,所得碎片的体积平均粒径为80~500微米;预处理:对步骤(1)获得的碎片进行低温等离子表面处理;碱溶液处理:将步骤(2)处理后的碎片放入碱溶液中,在20~30℃温度下超声震荡,并且每超声0.5h,暂停0.5h,总超声时间15~20h,过滤后获得第一剩余固体;溶剂提取:使用索式提取法对第一剩余固体进行抽提,收集未被有机溶剂抽提出来的固体以及剩余的有机溶剂。

著录项

  • 公开/公告号CN105823664B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海瀚海检测技术股份有限公司;

    申请/专利号CN201610308201.7

  • 发明设计人 沈世亮;赵汶斌;王霞;

    申请日2016-05-11

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 200030 上海市杨浦区翔殷路256号102室

  • 入库时间 2022-08-23 10:12:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-29

    授权

    授权

  • 2016-08-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N1/28 申请日:20160511

    实质审查的生效

  • 2016-08-03

    公开

    公开

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