提高测试准确性的测试装置及测试方法

摘要

本发明提出了一种提高测试准确性的测试装置及测试方法，通过在测试通道添加一个控制器，再在待测芯片两端分别添加电源开关及测试通道开关，控制器可控制测试通道开关的关闭和断开，还可通过寄存器分别控制电源开关的闭合和断开，从而拓展了测试通道的能力，能够实现在不增加额外测试通道的前提下，分别检测待测芯片的电流，并排除多芯片共电源测试方法的弊端，避免因为一个芯片的漏电而造成整体电源波动，影响对其他待测芯片的正常测试，从而提高测试准确度。