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利用光分析的单个粒子检测装置、单个粒子检测方法以及单个粒子检测用计算机程序

摘要

提供了能够使用利用共焦显微镜或多光子显微镜的光测量逐个检测单个粒子并定量地观测粒子的状态或特性的扫描分子计数法的单个粒子检测技术。本发明的对样本溶液中的单个粒子进行检测的技术的特征在于,一边使显微镜的光检测区域的位置在样本溶液内移动一边从光检测区域检测包含实质固定的背景光的光来生成按时间序列的光强度数据,在时序光强度数据中将不发光的单个粒子(或在检测波长频带的发光强度低于背景光的粒子)进入到光检测区域内时会产生的光强度的下降作为表示各个单个粒子的存在的信号而逐个检测。

著录项

  • 公开/公告号CN103765195B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 奥林巴斯株式会社;

    申请/专利号CN201280041717.X

  • 发明设计人 叶梨拓哉;田边哲也;

    申请日2012-05-23

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 10:11:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-01

    授权

    授权

  • 2014-06-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20120523

    实质审查的生效

  • 2014-04-30

    公开

    公开

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