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一种线路板Dk测试图形及线路板Dk测试方法

摘要

本发明旨在提供一种成本低、测试精度高且能同时获得多层芯板和半固化片Dk值的线路板Dk测试方法以及该方法采用的线路板Dk测试图形。本发明所述图形设计在线路板内的芯板上,所述图形由导通孔和阻抗线组成,所述导通孔与所述阻抗线相导通,所述阻抗线为不等宽阻抗线;本发明方法包括步骤①选择材料—②选择半固化片和芯板(core)—③设计叠构—④设计图形—⑤按常规流程投料制作线路板—⑥使用TDR测量阻抗—⑦对测试区域切片测试—⑧使用SI8000软件模拟—⑨导出对应的Dk。本发明可应用于孔加工设备领域。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-28

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H05K1/02 授权公告日:20180420 终止日期:20190910 申请日:20150910

    专利权的终止

  • 2018-04-20

    授权

    授权

  • 2016-01-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H05K1/02 申请日:20150910

    实质审查的生效

  • 2015-12-16

    公开

    公开

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