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时间序列形式的传感数据的不良图案检验方法及其装置

摘要

本发明提供一种能够检验由传感器测量的时间序列形式的传感数据的不良图案的装置及方法。本发明的时间序列形式的传感数据的不良图案检验方法包括以下步骤:获得适用于可疑传感器的时间序列形式的传感数据的不良图案信息;访问在检验对象期间由所述可疑传感器生成的各产品的时间序列形式的传感数据;按各产品计算根据所述不良图案信息的不良图案与所述时间序列形式的传感数据之间的相似度;基于所述相似度计算所述不良图案的错误率。

著录项

  • 公开/公告号CN104238543B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-02-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星SDS株式会社;

    申请/专利号CN201410261840.3

  • 发明设计人 申启荣;安大中;徐大弘;郑宇永;

    申请日2014-06-12

  • 分类号

  • 代理机构北京德琦知识产权代理有限公司;

  • 代理人康泉

  • 地址 韩国首尔

  • 入库时间 2022-08-23 10:08:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-02-27

    授权

    授权

  • 2015-01-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G05B23/02 申请日:20140612

    实质审查的生效

  • 2014-12-24

    公开

    公开

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