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一种电子设备加速可靠性增长试验方法

摘要

本发明可靠性试验技术领域,具体涉及一种电子设备加速可靠性增长试验方法。目的是解决高可靠长寿命电子设备的可靠性水平提高和验证问题。其特征在于,它包括如下步骤:确定正常环境应力剖面、确定加速应力剖面、基于故障分类计算加速系数、确定总试验时间和试验结果评估。本发明提供了一种综合环境应力加速试验的方法,解决了综合环境应力下可靠性试验的加速问题;同时提供了一种加速可靠性增长试验方法,能够在短时间内提高和验证电子设备可靠性水平,解决了高可靠长寿命电子设备可靠性水平的提高和验证问题。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-16

    授权

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  • 2016-08-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D21/00 申请日:20141210

    实质审查的生效

  • 2016-07-06

    公开

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