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用于线内合格率监测的关键参数电测试参数的自动确定的系统及方法

摘要

线内合格率监测可包含使用一或多个算法软件模块。线内合格率监测可包含使用例如学习模块及预测模块的两个相关算法软件模块。所述学习模块可从探针电测试合格率及参数电测试PET属性值的数据学习关键PET参数。所述关键PET参数可最佳地分离所述合格率数据中的离群值及内群值。所述预测模块可使用由所述学习模块发现的所述关键PET参数以预测晶片是探针测试分类中的内群值还是离群值。

著录项

  • 公开/公告号CN105264640B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-02-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 科磊股份有限公司;

    申请/专利号CN201480028376.1

  • 申请日2014-04-07

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人张世俊

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 10:07:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-02-27

    授权

    授权

  • 2016-05-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/00 申请日:20140407

    实质审查的生效

  • 2016-01-20

    公开

    公开

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