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用于光学合成孔径成像系统共相探测的色散哈特曼传感器

摘要

本发明公开了一种用于光学合成孔径成像系统共相探测的色散哈特曼传感器,由干涉区域选定光阑、色散元件阵列、透镜阵列、CCD相机组成;干涉区域选定光阑上有若干个和相邻两子孔径边缘相对应的通光孔,每个通光孔在色散元件阵列上有一个对应的色散元件,透镜阵列上也均有与色散元件相匹配的透镜;光学合成孔径成像系统的宽带平面波前首先经过干涉区域选定光阑选出若干组相邻两子孔径边缘光束,再由各组对应的色散元件对其色散,最终光束组通过各自的透镜在同一相机靶面上同时形成独立的色散条纹,实现了同时对多个子孔径间的平移误差进行探测。

著录项

  • 公开/公告号CN105300664B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院光电技术研究所;

    申请/专利号CN201510590076.9

  • 发明设计人 饶长辉;李杨;王胜千;

    申请日2015-09-16

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 610209 四川省成都市双流350信箱

  • 入库时间 2022-08-23 10:04:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-15

    授权

    授权

  • 2016-03-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20150916

    实质审查的生效

  • 2016-02-03

    公开

    公开

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