多层现场可编程门阵列硬件要求评估和验证

摘要

本发明公开了一种验证用于集成系统的现场可编程门阵列的方法，其包括：从所述现场可编程门阵列的一组要求中选择不受所述集成系统的动态影响的要求的第一子集；从所述现场可编程门阵列的一组要求中选择受所述集成系统的动态影响的要求的第二子集；使用验证要求的第一子集的芯片测试器对所述现场可编程门阵列执行硬件测试；和当所述现场可编程门阵列安装在所述集成系统内时对所述现场可编程门阵列执行硬件测试以验证要求的第二子集。