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一种中国低纬地区电离层闪烁发生概率预报方法

摘要

本发明公开了一种中国低纬地区电离层闪烁发生概率预报方法,所述方法包括:基于电离层闪烁指数S4的电离层不均匀体强度CkL反演方法,随太阳活动指数Rz、地磁活动指数Kp、地理位置、季节和时间变化的中国低纬地区电离层不均匀体强度CkL的概率密度分布模型和电离层闪烁发生概率计算方法。本发明提供的方法可依据用户需求计算指定地点、时间、太阳活动指数Rz、地磁活动指数Kp、工作频段、电离层闪烁指数S4阈值等条件下的电离层闪烁事件发生概率。

著录项

  • 公开/公告号CN105116469B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-10-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201510473513.9

  • 发明设计人 张红波;赵振维;刘玉梅;

    申请日2015-08-05

  • 分类号G01W1/10(20060101);

  • 代理机构11429 北京中济纬天专利代理有限公司;

  • 代理人孙静雅

  • 地址 266107 山东省青岛市城阳区仙山东路36号

  • 入库时间 2022-08-23 10:01:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-20

    授权

    授权

  • 2015-12-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01W 1/10 申请日:20150805

    实质审查的生效

  • 2015-12-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01W 1/10 申请日:20150805

    实质审查的生效

  • 2015-12-02

    公开

    公开

  • 2015-12-02

    公开

    公开

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