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一种钎焊空洞对微波器件传输性能影响的预测方法

摘要

本发明公开了一种钎焊空洞对微波器件传输性能影响的预测方法,包括:1)确定微波器件结构参数、材料属性和电磁工作参数;2)确定空洞的位置坐标;3)确定空洞的直径与高度;4)建立微波器件的电磁分析模型;5)确定馈电端口面的尺寸并设置电磁计算边界条件;6)计算微波器件的传输性能参数;7)判断当前的空洞尺寸下,微波器件传输性能是否满足要求,若不满足要求,根据上一次的空洞直径与高度以及当前的微波传输性能,更新空洞的直径与高度,直至满足要求。该方法通过优化钎焊空洞的直径与高度,可以使微波器件的传输性能达到工程设计的指标要求,同时可以对空洞尺寸是否满足工程设计的指标要求,进行快速、有效地判定。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-28

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F 17/50 授权公告日:20170517 终止日期:20170911 申请日:20140911

    专利权的终止

  • 2017-05-17

    授权

    授权

  • 2017-05-17

    授权

    授权

  • 2015-01-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20140911

    实质审查的生效

  • 2015-01-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20140911

    实质审查的生效

  • 2014-12-24

    公开

    公开

  • 2014-12-24

    公开

    公开

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