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一种三维测量系统及获得真实3D纹理点云数据方法

摘要

本发明公开了一种三维测量系统及获得真实3D纹理点云数据方法,方法包括以下步骤:S1:获取激光器点亮时图像I1和激光器关闭时图像I11;S2:对I1、I11所得的锁定成像进行图像处理,获得二值化轮廓线l1(u,v);S3:获得l1(u,v)对应的无激光时的灰度曲线h(u,v)并还原获得一条物体在三维空间某一横截面的真实图;S4:重复步骤S1~S3,获得一系列有灰度信息的轮廓线;S5:获得具有灰度信息的点云数据,采用三维表面轮廓重建技术将的点云数据重构出一个具有表面纹理信息的三维数字模型。本发明将纹理映射与三维模型重建相结合,重建出具有实物真实表面纹理的三维模型,将锁定成像获得的单像素轮廓线映射到无激光照明时获得的灰度图像,提高了纹理映射精度。

著录项

  • 公开/公告号CN104266587B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201410485980.9

  • 发明设计人 余学才;王宁宁;江倩;蒋波;

    申请日2014-09-22

  • 分类号G01B11/00(20060101);G01B11/24(20060101);G06T7/00(20170101);

  • 代理机构51227 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人周永宏

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 09:54:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-04-12

    授权

    授权

  • 2015-02-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20140922

    实质审查的生效

  • 2015-01-07

    公开

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